no. 1
Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
Revue de Statistique Appliquée, Tome 52 (2004) no. 1, pp. 5-37. 
@article{RSA_2004__52_1_5_0,
     author = {Le Gall, Caroline},
     title = {Comparaison de diff\'erentes analyses statistiques spatiales pour d\'etecter une d\'efaillance dans la fabrication de circuits int\'egr\'es},
     journal = {Revue de Statistique Appliqu\'ee},
     pages = {5--37},
     publisher = {Soci\'et\'e fran\c{c}aise de statistique},
     volume = {52},
     number = {1},
     year = {2004},
     language = {fr},
     url = {http://www.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/}
}
TY  - JOUR
AU  - Le Gall, Caroline
TI  - Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 2004
SP  - 5
EP  - 37
VL  - 52
IS  - 1
PB  - Société française de statistique
UR  - http://www.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/
LA  - fr
ID  - RSA_2004__52_1_5_0
ER  - 
%0 Journal Article
%A Le Gall, Caroline
%T Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
%J Revue de Statistique Appliquée
%D 2004
%P 5-37
%V 52
%N 1
%I Société française de statistique
%U http://www.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/
%G fr
%F RSA_2004__52_1_5_0
Le Gall, Caroline. Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés. Revue de Statistique Appliquée, Tome 52 (2004) no. 1, pp. 5-37. http://www.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/

Baron M., Lakshminarayan C.K. et Chen Z. (2001), Markov Random Fields in Pattern Recognition for Semiconductor Manufacturing. Technometrics, vol. 43, n° 1, pp. 66-72. | MR | Zbl

Besag J. (1974), Spatial Interaction and the Statistical Analysis of Lattice Systems. Journal of the Korean Statistical Society, vol. 2, pp. 192-236. | MR | Zbl

Breiman J., Friedman J., Olshen R. et Stone C. (1984), Classification and Regression Trees. Wadsworth & Brooks. | Zbl

Cliff A.D., Ord J.K. (1981), Spatial Processes, Models and Applications, London: Pion Limited. | MR | Zbl

Comets F. (1992), On Consistency of a Class of Estimators for Exponential Families of Markov Random Fields on the Lattice. The Annals of Statitics, vol. 20, pp. 455-468. | MR | Zbl

Cressie N.A.C. (1991), Statistics for Spatial Data. New York, Wiley. | MR | Zbl

Duvivier F. (1999), Automatic Detection of Spatial Signature on Wafermaps in a High Volume Production. Internal Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, pp. 61-66.

Hansen M.H., Nair V.N. et Friedman D.J. (1997), Monitoring Wafer Map Data From Integrated Circuit Fabrication Processes for Spatially Clustered Defects. Technometrics, vol. 39, n° 3, pp. 241-253. | Zbl

Hansen M.H., Nair V.N., James D.A. et Friedman D.J. (1997b), Model-Free Estimation of Defect Clustering in Integrated Circuit Fabrication. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 10, n° 3, pp. 344-359.

Longtin M.D., Wein L.M., Welsch R.E. (1996), Sequential Screening in Semiconductor Manufacturing, I : Exploiting Spatial Dependence. Operations Research, vol. 44, pp. 173-195. | Zbl

Moran P.A.P. (1948), The Interpretation of Statistical Maps. Journal of the Royal Statistical Society, Series B, vol. 10, pp. 243-251. | MR | Zbl

Paz O., Lawson T.R., Jr (1977), Modification of Poisson statistics : Modeling defects induced by diffusion. IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. SC-12, pp. 540-546.

Stapper C.H., Armstrong F.M., et Saji K. (1983), Integrated Circuit Yield Statistics. Proceeding of the IEEE, vol. 71, n° 4, pp. 453-470.