no. 2
Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
Revue de Statistique Appliquée, Tome 31 (1983) no. 2, pp. 19-42. 
@article{RSA_1983__31_2_19_0,
     author = {Ringler, J.},
     title = {Une extension de l'approche r\'esistance/contrainte appliqu\'ee \`a la mod\'elisation des lois de d\'efaillance des composants \'electroniques},
     journal = {Revue de Statistique Appliqu\'ee},
     pages = {19--42},
     publisher = {Soci\'et\'e de Statistique de France},
     volume = {31},
     number = {2},
     year = {1983},
     zbl = {0569.90028},
     language = {fr},
     url = {http://www.numdam.org/item/RSA_1983__31_2_19_0/}
}
TY  - JOUR
AU  - Ringler, J.
TI  - Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 1983
SP  - 19
EP  - 42
VL  - 31
IS  - 2
PB  - Société de Statistique de France
UR  - http://www.numdam.org/item/RSA_1983__31_2_19_0/
LA  - fr
ID  - RSA_1983__31_2_19_0
ER  - 
%0 Journal Article
%A Ringler, J.
%T Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
%J Revue de Statistique Appliquée
%D 1983
%P 19-42
%V 31
%N 2
%I Société de Statistique de France
%U http://www.numdam.org/item/RSA_1983__31_2_19_0/
%G fr
%F RSA_1983__31_2_19_0
Ringler, J. Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques. Revue de Statistique Appliquée, Tome 31 (1983) no. 2, pp. 19-42. http://www.numdam.org/item/RSA_1983__31_2_19_0/

[1] R.G. Stewart. - A causal redefinition of failure rate. Theorems, stress dependance, and application to devices and distribution, IEEE Transcact. of Reliability, Vol. R.15, no.3, Déc. 1966.

[2] M.L. Shooman. - Reliability physics models, IEEE Transact. of Reliability, Vol. R-17, No 1, Mars 1968.

[3] J. Ringler. - Une modélisation bayesienne du taux de défaillance, Second Colloque International sur la Fiabilité et la Maintenabilité à Perros-Guirec, Sept. 1980. Paru dans la revue de Statistiques Appliquées, Vol. 29, n° 1, 1981, pp. 43-56. | Numdam

[4] T. Calvin. - Modeling the bathtub curve. Annual Reliability and Maintenability Symposium, 1974.

[5] Kapur and Lamberson. - Reliability in Engineering design, J. Wiley and Sons (N.Y.).

[6] J. Moltoft. - The failure rate function estimated from parameter drift measurements, Micro-Electronics and Reliability, Vol. 20, 1980.

[7] C.M. Harris and N.D. Singpurwalla. - Life distribution derived from stochastic hazard functions, IEEE Transact. of Reliability, Vol. R-17, No. 2, Juin 1968.