Revue de Statistique Appliquée, Tome 16 (1968) no. 1

Sommaire

Quelques remarques sur les plans d'échantillonnage

Vessereau, A.

p. 5-35

Expressions générales concernant la fiabilité de systèmes réparables

Cavé, R.

p. 37-57

Simulation par aléatoires de l'indice de concordance de Theil

Giraud, R. ; Thionet, P.

p. 59-75

Puissance de quelques tests classiques effectif d’échantillon pour des risques

α, β

Morice, E.

p. 77-126